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招標(biāo)代理公司（立即查看） 受業(yè)主單位（立即查看） 委托，于2025-03-03在采購與招標(biāo)網(wǎng)發(fā)布 沈陽理工大學(xué)瞬態(tài)物理力學(xué)與能量轉(zhuǎn)換材料重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)設(shè)備更新項(xiàng)目招標(biāo)公告。現(xiàn)邀請(qǐng)全國供應(yīng)商參與投標(biāo)，有意向的單位請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系項(xiàng)目聯(lián)系人參與投標(biāo)。 ?沈陽理工大學(xué)瞬態(tài)物理力學(xué)與能量轉(zhuǎn)（略）設(shè)備更新項(xiàng)目招標(biāo)（略）發(fā)布時(shí)間:（略）-（略）-（略）??項(xiàng)目概況沈陽理工大學(xué)瞬態(tài)物理力學(xué)與能量轉(zhuǎn)（略）設(shè)備更新項(xiàng)目招標(biāo)項(xiàng)目的潛在供應(yīng)商應(yīng)在（略）獲取招標(biāo)文件,并于（略）年（略）月（略）日（略）時(shí)（略）（北京時(shí)間）前遞交投標(biāo)文件。一、項(xiàng)目基本情況項(xiàng)目編號(hào)：JH（略）-（略）-（略）項(xiàng)目名稱：沈陽理工大學(xué)瞬態(tài)物理力學(xué)與能量轉(zhuǎn)（略）設(shè)備更新項(xiàng)目包組編號(hào)：（略）預(yù)算金額（（略））：（略）最高限價(jià)（（略））：（略）采購需（略）部（略）：（1）交貨時(shí)間：合同簽訂后9個(gè)月內(nèi)安裝調(diào)試完畢。（2）交貨地址：（略）3）付款方式：合同簽訂后，中標(biāo)人向采購人提供合同金額（略）%的預(yù)付款保函（預(yù)付款保函為見索即付保函；保函開具前，必須將保函文本向采購人申報(bào)，并經(jīng)采購人確認(rèn)保函所有條款后，再行開具正式保函；索賠不得附加需中標(biāo)人同意或需中標(biāo)人提供證明材料條款。保函有效期不低于交貨時(shí)間，具體以合同簽訂為準(zhǔn)），采購人收到預(yù)付款保函后，（略）%的預(yù)付合同款。貨到經(jīng)安裝調(diào)試驗(yàn)收合格，且中標(biāo)單位需向采購人提供全額發(fā)票，（略）剩余（略）%合同款。（4）備品備件供應(yīng)及優(yōu)惠價(jià)格要求：質(zhì)保期內(nèi)不收取任何費(fèi)用；超過質(zhì)保期，不（略）場價(jià)格。（具體以合同簽訂內(nèi)容為準(zhǔn)）安裝調(diào)試（5）技術(shù)服務(wù)及培訓(xùn)：在交付時(shí)進(jìn)行（略）設(shè)備試運(yùn)行。對(duì)采購方用戶進(jìn)行為期不小于1周的（略）使用及維護(hù)培訓(xùn)，保證至少2名研究人員熟練掌握設(shè)備、（略）的操作流程。（6）驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及方法：貨物外觀完好無損，產(chǎn)品能正常工作，各項(xiàng)功能和性能符合技術(shù)指標(biāo)要求。（7）質(zhì)量保證期：序號(hào)：（略）、（略）、（略）自安裝驗(yàn)收合格之日起至少3年質(zhì)保期；序號(hào)：（略）、（略）、（略）、（略）自安裝驗(yàn)收合格之日起至少2年質(zhì)保期；序號(hào)：（略），模塊A自安裝驗(yàn)收合格之日起1年質(zhì)保期。模塊B自安裝驗(yàn)收合格之日起3年質(zhì)保期。其余序號(hào)：自安裝驗(yàn)收合格之日起至少1年質(zhì)保期。（8）保修期內(nèi)上門免費(fèi)服務(wù)，終身維修，提供配件：在質(zhì)保期內(nèi)，因產(chǎn)品質(zhì)量而導(dǎo)致的缺陷，免費(fèi)提供包修、包換、包退服務(wù)。（9）（略）支持：（（略））小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；（?（略）?）小時(shí)內(nèi)到達(dá)（（略））維修技術(shù)人員及設(shè)備方面的保證措施及收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)的要求：質(zhì)保期內(nèi)免費(fèi)提供相關(guān)服務(wù)；其他如需收費(fèi)的服務(wù)，其收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)按行業(yè)（企業(yè)）規(guī)定的收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行，且不（略）場價(jià)格。（（略））備品備件供應(yīng)及優(yōu)惠價(jià)格要求：質(zhì)保期內(nèi)不收取任何費(fèi)用；超過質(zhì)保期，不（略）場價(jià)格。（具體以合同簽訂內(nèi)容為準(zhǔn)）（（略）擴(kuò)展、升級(jí)服務(wù)要求：終身免費(fèi)升級(jí)。技術(shù)部（略）：一、原位拉伸掃描電子顯微鏡（1套）1.1掃描電鏡部（略）▲1.1.1電子槍：肖特基場發(fā)射電子槍；★1.1.2（略）辨率：≤0.8nm@（略）kV，SE；≤1.2nm@1kV，SE；1.1.3加速電壓范圍：（略）V～（略）kV；1.1.4束流大?。?pA～（略）nA；▲1.1.5放大倍數(shù)范圍：1×～2,（略）,（略）×；★1.1.6配備電磁復(fù)合透鏡和水冷恒溫物鏡，物鏡光闌≥6孔且可調(diào)，可實(shí)現(xiàn)電偏轉(zhuǎn)切換；1.1.7配備高壓加速管、渦輪（略）子泵1臺(tái)、機(jī)械泵1臺(tái)、離子泵2臺(tái)，具有真空互鎖功能；▲1.1.8真空度：電子槍真空度≤9×（略）-8Pa；樣品倉真空度≤5×（略）-4Pa；★1.1.9擴(kuò)展接口：≥（略）個(gè)；★1.1.（略）配備5（略）樣品臺(tái)；樣品臺(tái)行程：（略）≥（略）mm，Y≥（略）mm，Z≥（略）mm，傾斜：-（略）°~+（略）°；轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：（略）°連續(xù)可調(diào)；樣品倉容積：寬≥（略）mm，高≥（略）mm，深≥（略）mm；最大樣品尺寸：直徑≥（略）mm，高≥（略）mm；樣品臺(tái)承重：≥3kg；▲1.1.（略）硬件防碰撞模塊：具有樣品臺(tái)吸收電流探測功能；★1.1.（略）配備旁側(cè)二次電子探測器、鏡筒內(nèi)電子探測器和插入式背散射電子探測器；▲1.1.（略）配備樣品交換倉；1.1.（略）配備噴金儀及UPS；1.1.（略）可進(jìn)（略）同時(shí)成像，可集成第三方探測器信號(hào)輸入，并在（略）上進(jìn)行成像，可根據(jù)（略）的信號(hào)進(jìn)行混合成像；▲1.1.（略）標(biāo)配彩色CCD相機(jī)的光學(xué)導(dǎo)航功能，包括垂直CCD相機(jī)和水平CCD相機(jī)；1.1.（略）提供一臺(tái)金相顯微鏡和一臺(tái)切割機(jī)；1.1.（略）配備多功能聚焦顯微拉曼儀1套（至少2（略））。1.2能譜部（略）▲1.2.1探測器：（略）析型SDD硅漂移電制冷探測器，晶體有效面積≥（略）mm2，非液氮冷卻；★1.2.2具備（略）素面（略）布實(shí)時(shí)功能：在樣品臺(tái)靜止?fàn)顟B(tài)、移動(dòng)及改變放大倍數(shù)時(shí)，均可實(shí)時(shí)顯示電子圖像、不同（略）素（略）布以及它們的疊加圖；樣品停止移動(dòng)時(shí)，自動(dòng)開啟面（略）布圖靜態(tài)采集模式，得到更高清晰度的面（略）布圖；可利用（略）控制樣品臺(tái)移動(dòng)及改變放大倍數(shù)；★1.2.3具備KLM全譜線系數(shù)據(jù)庫，配置（略）kV及5kV高低電壓定量數(shù)據(jù)庫，可覆蓋不同電壓下的定量（略）析；同時(shí)，用戶可利用微束（略）析標(biāo)樣建立相應(yīng)（略）素的數(shù)據(jù)庫，進(jìn)行有標(biāo)樣定量（略）析；1.2.4電子圖像（略）辨率：≥（略）×（略）像素；（略）素面（略）布圖（略）辨率：≥（略）×（略）像素；可從面（略）布圖上進(jìn)行點(diǎn)、線譜圖重建。1.3原位測試儀部（略）▲1.3.1靜態(tài)最大力：≥（略）N；▲1.3.2力值精度：傳感器滿量程的4~（略）%內(nèi)±0.5%示值或0.1%F.S.；▲1.3.3最大位移：≥（略）mm；位移（略）辨率：≤0.1μm；▲1.3.4試驗(yàn)速度：0.（略）mmmin~（略）mmmin；速度控制精度：≤±0.5%；★1.3.5高溫模塊：最高溫度≥（略）℃；控溫精度：≤±2℃：★1.3.6夾具具備轉(zhuǎn)動(dòng)功能，可使試樣翻轉(zhuǎn)，以適配SEM、EBSD檢測的不同需求；1.3.7主機(jī)側(cè)方開口結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。1.4EBSD部（略）★1.4.1高速低噪音CMOS相機(jī)，（略）辨率：≥（略）×（略），并能夠與各主流型號(hào)的電鏡良好配合；▲1.4.2EBSD（略）解析最高標(biāo)定速度≥（略）pps，此時(shí)花樣（略）辨率≥（略）×（略）；★1.4.3取向精度：≤0.（略）度；1.4.4（略）配置（1）操作（略）完全與能譜儀（略）一體化，可根據(jù)能譜數(shù)據(jù)對(duì)EBSD花樣進(jìn)行預(yù)過濾，實(shí)現(xiàn)對(duì)未知相的相鑒定，實(shí)現(xiàn)能譜EBSD同時(shí)聯(lián)機(jī)（略）析且不降速；（2）切換樣品、更換（略）析位置、以及EBSD探測器伸縮、傾轉(zhuǎn)后均無需重新扣除動(dòng)態(tài)背景或重新優(yōu)化；（3）能對(duì)所有對(duì)稱性（從三斜到立方）晶體材料的EBSP花樣進(jìn)行自動(dòng)化的標(biāo)定，且各相的反射面可獨(dú)立選擇，可利用衍射帶邊緣或中間進(jìn)行識(shí)別；（4）配置自有及ICSD海量晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫，數(shù)據(jù)容量不小于5（略）種；（5）具有專用的高精度標(biāo)定模式，實(shí)現(xiàn)更高（略）度（略）辨率的標(biāo)定；（6）具有（略）位EBSD數(shù)據(jù)后處理（略）包，可處理包含多至（略）像素的單個(gè)文件，并包含且不限于如下功能：數(shù)據(jù)修飾；晶粒統(tǒng)計(jì)（尺寸、形態(tài)等）；晶界（略）析；應(yīng)變（略）析；極圖和反極圖；校準(zhǔn)EBSD（略）析時(shí)由于漂移導(dǎo)致的與電子圖像產(chǎn)生的失真。二、原子力顯微鏡（1套）2.1工作模式：包含輕敲模式，接觸模式，相位成像模式，橫向力模式，磁場力顯微鏡模式，壓電力顯微鏡模式，雙頻共振追蹤模式，矢量壓電力顯微鏡，靜電力顯微鏡，掃描開爾文顯微鏡，力曲線，力陣列測量，納米刻蝕，納米操縱，高次諧波成像模式。2.2掃描器2.2.1采用（略），Y，Z三軸（略）離的樣品掃描器，三個(gè)驅(qū)動(dòng)軸嚴(yán)格正交；2.2.2（略），Y方向的掃描范圍：≥（略）μm，Z方向：≥5μm；▲2.2.3噪音水平：（略），Y軸閉環(huán)噪音：≤（略）pm；2.2.4無需修正即可在常規(guī)實(shí)驗(yàn)條件下實(shí)現(xiàn)晶格級(jí)成像；★2.2.5掃描速度：掃描速線度≥（略）Hz；2.2.6配備氣相、液相探針夾持器；2.2.7激光模塊：標(biāo)準(zhǔn)激光二極管，光斑尺寸≤（略）×（略）μm；▲2.2.8壓電力顯微鏡模式：能夠?qū)崿F(xiàn)雙頻共振追蹤壓電力顯微鏡模式和極化反轉(zhuǎn)壓電力顯微鏡模式，測試電壓≥（略）V；▲2.2.9導(dǎo)電原子力顯微鏡模式：能夠?qū)崿F(xiàn)電流成像和IV曲線測試，測試電流范圍1nA~（略）nA（最小值≤1nA，最大值≥（略）nA）；該模式下可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)高（略）辨成像和壓電疇信息。2.3（略）2.3.1可實(shí)現(xiàn)全密封環(huán)境控制腔，無需外接組件；密封環(huán)境控制腔具有防泄漏壓力傳感器；配備有流量計(jì)與（略）；2.3.2可直接通過操作（略）控制密閉樣品腔內(nèi)的溫控模塊，實(shí)現(xiàn)室溫至（略）℃的變溫；2.3.3環(huán)境控制腔能夠耐酸、堿、溶劑、緩沖溶液和惰性氣體。2.4控制器2.4.1具備至少3個(gè)全數(shù)字雙頻鎖相放大器；2.4.2具有BNC開放信號(hào)接口。2.5操作（略）中文版操作（略），帶有自動(dòng)導(dǎo)航和自動(dòng)優(yōu)化功能。2.6自動(dòng)化控制★2.6.1能夠通過（略）驅(qū)動(dòng)馬達(dá)控制激光點(diǎn)位置調(diào)節(jié)，無需手動(dòng)調(diào)節(jié)；★2.6.2能夠通過（略）控制光電二極管檢測器自動(dòng)歸（略），無需手動(dòng)調(diào)節(jié)；2.6.3具有（略）自動(dòng)進(jìn)針進(jìn)行智能掃描功能。2.7（略）2.7.1（略）的聚焦和縮放功能，光學(xué)（略）辨率：≤1.5μm；▲2.7.2光電檢測器帶寬≥（略）MHz。2.8配備控制主機(jī)2.9探針及其他附件2.9.1配備探針：不少于（略）根普通探針、（略）根高（略）辨探針和（略）根形貌探針；2.9.2配備光柵、鑷子、標(biāo)準(zhǔn)樣品等原子力顯微鏡工作必須的附件；2.9.3配備壓電陶瓷粉末高壓極化儀，電壓0~（略）kV；2.9.4配備壓電陶瓷原位壓縮電滯回線測試夾具一套，壓力≥（略）kN，溫度-（略）~（略）℃。三、固體表面ZETA電位測量儀（1套）3.1主機(jī)3.1.1流動(dòng)電勢測量范圍：±（略）mV；3.1.2流動(dòng)電流測量范圍：±（略）μA；3.1.3操作壓力：0～（略）mbar；▲3.1.4絕對(duì)壓力測量：≥（略）mbar；3.1.5pH值范圍：pH2～pH（略）；▲3.1.6可得到雙方向測量結(jié)果，最大往復(fù)運(yùn)動(dòng)頻率≥0.5Hz；3.1.7電導(dǎo)率范圍：0.（略）～（略）mScm（最小值≤0.（略）mScm，最大值≥（略）mScm）；3.1.8測量單（略）可視化設(shè)計(jì)，具有自動(dòng)排氣泡功能。3.2測試（略）3.2.1樣品池自動(dòng)識(shí)別，更換不同樣品池時(shí)無需手動(dòng)調(diào)（略）參數(shù)設(shè)置；▲3.2.2電位測量時(shí)長≤1min，每（略）鐘可得到至少（略）個(gè)壓力曲線；3.2.3同步測量壓差、溫度、電導(dǎo)率和pH值；3.2.4所有測量參數(shù)同步顯示在實(shí)時(shí)窗口，包含片狀固體材料測量功能及粉末材料測量功能；3.2.5可實(shí)現(xiàn)單次實(shí)驗(yàn)多天無限制時(shí)間測量。3.3樣品池3.3.1具備用于片狀固體材料的樣品池，尺寸：≥（略）mm×（略）mm×（略）mm（L×W×H）；3.3.2（略）域：≥（略）mm×（略）mm；最大樣品高度：≥2mm；3.3.3具備用于纖維、粉末的樣品池，滿足≤（略）μm直徑的粉末顆粒測試。四、旋轉(zhuǎn)流變儀（1套）★4.1進(jìn)行樣品的粘度、剪切應(yīng)力、流動(dòng)曲線、粘度曲線等重要流變學(xué)參數(shù)測試；可進(jìn)行樣品的凝固過程、溶膠-凝膠過程、結(jié)晶熔融過程和固化過程（略）析?！?.2可進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測試，如粘度、剪切應(yīng)力、流動(dòng)曲線、粘度曲線、粘溫曲線、觸變性、滯后環(huán)面積、屈服應(yīng)力等；可進(jìn)行動(dòng)態(tài)測試，如儲(chǔ)能模量G'、損耗模量G''、損耗因子等；可進(jìn)行瞬態(tài)測試，如蠕變、應(yīng)力松弛、法向應(yīng)力等，可計(jì)算蠕變?nèi)崃?、松弛模量等?.3具有空氣軸承。▲4.4最小扭矩：≤1μN(yùn)·m；最大扭矩：≥（略）mN·m；扭矩（略）辨率：≤0.（略）μN(yùn)·m。▲4.5最?。裕┧俣龋骸埽裕?4rads；最大（略）速度：≥（略）rads；（略）位移（略）辨率：≤0.6μrad。▲4.6最小旋轉(zhuǎn)速度：≤（略）-3rpm；最大旋轉(zhuǎn)速度：≥（略）rpm。▲4.7最小頻率：≤（略）-4Hz；最大頻率：≥（略）Hz。4.8最小法向力：≤0.（略）N；最大法向力：≥（略）N；法向應(yīng)力（略）辨率：≤0.（略）N。★4.9（略）可控最低溫度：≤-（略）℃；可控最高溫度：≥（略）℃?！?.（略）圓筒轉(zhuǎn)平板溫控適配器：同軸圓筒和平板轉(zhuǎn)（略）。4.（略）配備控（略）（1套）5.1撞擊敏感程度測試模塊★5.1.1落高范圍：0~2m，測量高度誤差：≤±1mm；★5.1.2落錘標(biāo)準(zhǔn)重量規(guī)格：包含（2±0.（略））kg；（5±0.（略））kg；（（略）±0.（略））kg；（（略）±0.（略））kg；5.1.3鋼砧的水平度：≤0.2mmm；5.1.4導(dǎo)